เครื่องคัดแยก

HY-TS936T เครื่องคัดแยกแบบป้อมปืน ได้รับการออกแบบมาเพื่อการขนย้ายอุปกรณ์แบบแยกชิ้นและชิ้นส่วน IC โดยใช้ถาดเป็นฐาน

HY-TS936P ตัวจัดการทดสอบป้อมปืน ได้รับการออกแบบมาเพื่อการทดสอบและการคัดแยกที่ยืดหยุ่น รองรับสถานีทดสอบ วิธีการป้อนวัสดุ และการกำหนดค่าการขนถ่ายที่หลากหลาย เพื่อตอบสนองความต้องการด้านการจัดเก็บและการผลิตที่แตกต่างกัน

HY-DS30K เป็นเครื่องเลื่อยตัดแบบรวมความเร็วสูงที่พัฒนาขึ้นสำหรับการแยกชิ้นส่วนหลังการขึ้นรูปของแผ่นรองรับเซมิคอนดักเตอร์ โดยรองรับกระบวนการทำงานแบบครบวงจร ตั้งแต่การตัดแผ่นรองรับ การทำความสะอาด การตรวจสอบด้วยระบบวิชั่น การคัดแยก และการจัดเรียงลงถาด ซึ่งช่วยเพิ่มประสิทธิภาพการผลิตในกระบวนการบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์มาตรฐานได้อย่างมาก

HY-TS936L ตัวจัดการทดสอบป้อมปืน ใช้สำหรับการทดสอบ การตรวจสอบด้วยสายตา และการติดเทปชิ้นส่วนอนุกรมที่ไวต่อแสง

HY-TS936H ตัวจัดการทดสอบป้อมปืน ออกแบบมาเพื่อการทดสอบและการคัดแยกอุปกรณ์และไอซีแบบแยกชิ้นทั้งในอุณหภูมิห้องและอุณหภูมิสูง

HY-TH860 Sตัวจัดการสารกึ่งตัวนำเป็นระบบทดสอบแบบบูรณาการในรูปแบบป้อมปืนที่ออกแบบมาสำหรับงานทดสอบขั้นสุดท้าย (FT) ของเซมิคอนดักเตอร์ โดยรองรับแพ็คเกจประเภท TO-220, TO-247, TO-252, TO-263 และ TO-3P โดยเฉพาะ

HY-TH820 Turret Sorter เป็นระบบทดสอบแบบบูรณาการในรูปแบบป้อมปืนที่ออกแบบมาสำหรับการทดสอบขั้นสุดท้าย (FT) ของเซมิคอนดักเตอร์ โดยรองรับแพ็คเกจประเภท DFN0603, DFN0606, DFN1006, DFN1010 และ DFN1107 โดยเฉพาะ

HY-BT12 เครื่องติดเทปสีน้ำเงินเป็นเครื่องติดเทปสีน้ำเงินความเร็วสูงที่ออกแบบมาเพื่อคัดเลือกชิปจากแผ่นเวเฟอร์เทปสีน้ำเงินอย่างแม่นยำ และบรรจุลงในเทปตัวนำสำหรับอุปกรณ์ IC และ LED

HY-TT2401 Hอันเลอร์เป็นเครื่องจัดการแบบบูรณาการประสิทธิภาพสูงที่รวมการทดสอบทางไฟฟ้า การตรวจสอบด้วยแสง และการบรรจุภัณฑ์ด้วยเทปเข้าไว้ในระบบอัตโนมัติเดียว ออกแบบมาสำหรับงานบรรจุภัณฑ์และการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์

เครื่องคัดแยกทดสอบ HY-TT1801 ใช้สำหรับการติดเทปอุปกรณ์แบบแยกชิ้น ไอซี ชิ้นส่วน DFN และบริดจ์เรียงกระแส

เครื่องจัดการเซมิคอนดักเตอร์ HY-CS3025 ออกแบบมาเพื่อการตรวจสอบข้อบกพร่องด้วยสายตา การทดสอบประสิทธิภาพทางไฟฟ้า และการบรรจุผลิตภัณฑ์สำเร็จรูปของตัวเก็บประจุแทนทาลัมแบบชิปและตัวเก็บประจุอะลูมิเนียมแบบหลายชั้น

เครื่องคัดแยกชิป HY-CS3021 เป็นเดซีออกแบบมาเพื่อการตรวจสอบข้อบกพร่องทางสายตา การทดสอบประสิทธิภาพทางไฟฟ้า และการบรรจุผลิตภัณฑ์สำเร็จรูปของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ขนาดเล็กทั้งแบบแอคทีฟและพาสซีฟ