ตัวจัดการ ic

HY-TS936H ตัวจัดการทดสอบป้อมปืน ออกแบบมาเพื่อการทดสอบและการคัดแยกอุปกรณ์และไอซีแบบแยกชิ้นทั้งในอุณหภูมิห้องและอุณหภูมิสูง

HY-PS308 ด้ามจับทดสอบการหยิบและวางr ได้รับการออกแบบมาเพื่อการทดสอบและการคัดแยกอัตโนมัติของแพ็คเกจเซมิคอนดักเตอร์ MSOP, QFN, DFN, LQFP, LGA, BGA, CSP และอื่นๆ ที่มีขนาดตั้งแต่ 2 × 2 ถึง 110 × 110 มม.